SETA DC’nin düzenlediği panelde konuşmacılar, darbe girişiminin arkasında FETÖ’nün olduğu ve elebaşı Gülen’in iade sürecinin Türk-Amerikan ilişkilerini oldukça zorladığı noktasında birleşti.
Siyaset, Ekonomi ve Toplum Araştırmaları Vakfı Washington Ofisi (SETA DC) tarafından ABD’de düzenlenen panelde konuşmacılar, 15 Temmuz’daki darbe girişiminin arkasında Fetullahçı Terör Örgütü’nün (FETÖ) bulunduğu ve elebaşı Fetullah Gülen’in iade sürecinin Türk-Amerikan ilişkilerini epeyce zorladığı konusunda hemfikir oldu.
Moderatörlüğünü SETA DC Direktörü Kadir Üstün’ün yaptığı “15 Temmuz Darbe Girişiminin Türk-Amerikan İlişkilerine Etkileri” başlıklı panele, Princeton Üniversitesinden Michael Reynolds, California Berkeley Üniversitesinden Mujeeb Khan ve SETA DC Araştırmacısı Ahmet Selim Tekelioğlu, konuşmacı olarak katıldı.
FETÖ mensuplarının darbe girişimi sürecindeki “fay hatları”nda etkin rol oynadığını vurgulayan Tekelioğlu, o gece yaşananların Türk halkında oluşturduğu travmanın iyi okunması gerektiğini belirtti.
Amerikalı yetkililerin bu travmayı anlamasının önemli olduğuna işaret eden Tekelioğlu, ABD yönetiminin darbe girişimi ve sonrasındaki bazı tavırlarının, zaten “çalkantılı” olan Türk-Amerikan ilişkilerine daha fazla yük getirdiğini kaydetti. ABD’nin 15 Temmuz travmasını yeterince iyi okuyamadığı değerlendirmesini yapan Tekelioğlu, bu durumun Ankara’da bir “hayal kırıklığı” oluşturduğuna dikkati çekti.
Darbe girişiminden sonra devletin farklı kademelerindeki FETÖ mensuplarını “ayıklama” sürecinin çok önemli olduğunu dile getiren Tekelioğlu, FETÖ ile bürokratik anlamda mücadelenin bir anda bitecek bir süreç olmayacağını sözlerine ekledi.
FETÖ’nün hiçbir zaman şeffaf olmadığına işaret eden Mujeeb Khan ise Türkiye’nin demokratik kurumsallaşmasıyla ilgili adımlarına devam etmesinin önemini anlattı.
Devlet mekanizması içinde şeffaf olmayan yöntemlerle yükselen FETÖ mensuplarının kurumsal yapıları hedef aldığını kaydeden Khan, bu sürecin sonunda neredeyse “demokratik olarak seçilmiş bir hükümetin devrileceğini” söyledi.
